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軟體程式設計

Histogram + KPI 分析工具

為半導體測試廠開發 CSV 資料匯入分析工具,自動繪製分布直方圖並顯示 LSL/Target/USL規格線、Cpk、Sigma(within)、±1/2/3σ 標記。支援 PowerPoint一鍵匯出,圖表格式與畫面完全一致。適用 CP/FT 量產測試資料分析與良率管控。

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2026/05/19 更新

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