軟體程式設計

半導體 CP 良率監控系統

為半導體測試廠開發 CP 良率監控桌面工具，整合 YTEC 與 MSEC 兩套 NAS 資料來源（.API / .AP2 /CSV 格式），自動增量同步至本機快取並並行解析，顯示 Lot級良率摘要與趨勢圖表（ScottPlot）。支援依產品型號、日期範圍篩選，雙擊 Lot 可展開 Wafer 級 Bin明細（最多 48 Bin 動態欄位）。 良率以顏色自動標示（≥90% 綠、80–90% 黃、<80%紅），並支援一鍵匯出含趨勢圖的 Excel 報表。